研发

HALT 测试

高加速寿命测试

在开发客户专用触摸屏的过程中，Interelectronix 采用 HALT（高加速寿命测试）和 HASS（应力筛选）应力测试方法，对产品的安全性和使用寿命进行相应的测试和优化。

在 HALT 使用寿命测试的帮助下，可以在触摸屏开发的早期阶段发现技术缺陷和设计错误，并通过适当选择材料和结构来消除这些缺陷和错误。

HASS 和 HALT 测试用于快速模拟触摸屏正常的、与应用相关的老化和磨损。该测试程序仅需 2 至 5 天，可创建一个人工老化过程，从而揭示产品的弱点。

HALT 测试的顺序

在该测试中，触摸屏被放置在压缩空气室的振动台上。

测试通常从冷阶段测试开始。从 20 摄氏度开始，温度以 10 开尔文为单位降低到要检查的最低温度。在每个温度设置下进行约 10 分钟。

下一步，触摸屏要进行类似的热度测试，然后进行温度波动测试，在最低温度和最高温度之间跳动。

最后，触摸屏还必须通过 5 Grms 的抗振性测试。

在测试运行结束时进行的综合应力测试，由于单个负载的叠加，会再次产生最大应力。