توسعه

تست HALT

تست زندگی بسیار شتاب

در طول توسعه صفحه نمایش لمسی خاص مشتری، Interelectronix از روش های تست استرس HALT (تست عمر بسیار سریع) و HASS (غربالگری استرس) برای آزمایش و بهینه سازی ایمنی محصول و عمر مفید استفاده می کند.

با کمک تست عمر مفید HALT، هم ضعف های فنی و هم خطاهای طراحی در مراحل اولیه در طول توسعه صفحه لمسی شناسایی می شوند و با انتخاب مناسب مواد و ساخت و ساز از بین می روند.

تست HASS و HALT برای شبیه سازی پیری طبیعی و مرتبط با کاربرد و سایش صفحه لمسی در یک فرآیند سریع استفاده می شود. این روش آزمایشی تنها دو تا پنج روز طول می کشد و یک فرآیند پیری مصنوعی ایجاد می کند که نقاط ضعف یک محصول را نشان می دهد.

توالی یک تست HALT

برای این آزمایش، صفحه لمسی روی یک میز ارتعاشی در یک محفظه هوای فشرده قرار می گیرد.

آزمایش معمولا با آزمایش مرحله سرد شروع می شود. با شروع از 20 درجه سانتیگراد، دما در 10 مرحله کلوین به حداقل دمایی که باید بررسی شود کاهش می یابد. این کار در هر تنظیم دما حدود 10 دقیقه انجام می شود.

در مرحله بعد، صفحه لمسی تحت آزمایش سطح حرارت مشابهی قرار می گیرد و سپس تحت آزمایش نوسان دما قرار می گیرد و بین دمای حداقل و حداکثر می پرد.

در نهایت، صفحه نمایش لمسی باید مقاومت لرزش خود را در 5 مرحله گرم ثابت کند.

یک تست استرس ترکیبی در پایان اجرای آزمایشی دوباره به دلیل روی هم قرار گرفتن بارهای فردی، حداکثر تنش را ایجاد می کند.