Développement

Test HALT

Test de durée de vie accélérée (Highly Accelerated Life Test)

Lors du développement d'écrans tactiles spécifiques aux clients, Interelectronix utilise les méthodes de test de stress HALT (Highly Accelerated Life Test) et HASS (Stress Screening) pour tester et optimiser la sécurité et la durée de vie des produits en conséquence.

Le test de durée de vie HALT permet de détecter les faiblesses techniques et les erreurs de conception à un stade précoce du développement d'un écran tactile et de les éliminer par un choix approprié des matériaux et de la construction.

Les tests HASS et HALT permettent de simuler rapidement le vieillissement et l'usure normaux d'un écran tactile en fonction de l'application. Cette procédure de test ne prend que deux à cinq jours, créant un processus de vieillissement artificiel qui révèle les faiblesses d'un produit.

Déroulement d'un test HALT

Pour ce test, l'écran tactile est placé sur une table vibrante dans une chambre à air comprimé.

Le test commence généralement par une phase froide. En partant de 20° Celsius, la température est abaissée par paliers de 10 kelvins jusqu'à la température minimale à vérifier. Cette opération est effectuée pendant environ 10 minutes pour chaque réglage de température.

Au cours de l'étape suivante, l'écran tactile est soumis à un test de niveau de chaleur similaire, puis à un test de fluctuation de température, en passant de la température minimale à la température maximale.

Enfin, l'écran tactile doit prouver sa résistance aux vibrations par étapes de 5 Grms.

À la fin de l'essai, un test de contrainte combiné génère à nouveau une contrainte maximale en raison de la superposition des charges individuelles.