विकास

हॉल्ट टेस्ट

अत्यधिक त्वरित जीवन परीक्षण

ग्राहक-विशिष्ट टचस्क्रीन के विकास के दौरान, Interelectronix तदनुसार उत्पाद सुरक्षा और सेवा जीवन का परीक्षण और अनुकूलन करने के लिए HALT (अत्यधिक त्वरित जीवन परीक्षण) और HASS (तनाव स्क्रीनिंग) तनाव परीक्षण विधियों का उपयोग करता है।

HALT सेवा जीवन परीक्षण की मदद से, टचस्क्रीन के विकास के दौरान प्रारंभिक चरण में तकनीकी कमजोरियों और डिज़ाइन त्रुटियों दोनों का पता लगाया जाता है और सामग्री और निर्माण के उपयुक्त विकल्प द्वारा समाप्त किया जाता है।

HASS और HALT परीक्षण का उपयोग सामान्य, अनुप्रयोग से संबंधित उम्र बढ़ने और तेजी से प्रक्रिया में टचस्क्रीन के पहनने के लिए किया जाता है। इस परीक्षण प्रक्रिया में केवल दो से पांच दिन लगते हैं, जिससे कृत्रिम उम्र बढ़ने की प्रक्रिया बनती है जो किसी उत्पाद की कमजोरियों को प्रकट करती है।

HALT परीक्षण का क्रम

इस परीक्षण के लिए, टच स्क्रीन को एक संपीड़ित वायु कक्ष में एक कंपन तालिका पर रखा गया है।

परीक्षण आमतौर पर एक ठंडे चरण के परीक्षण के साथ शुरू होता है। 20 डिग्री सेल्सियस से शुरू होकर, तापमान को 10 केल्विन चरणों में न्यूनतम तापमान की जांच के लिए कम किया जाता है। यह प्रत्येक तापमान सेटिंग में लगभग 10 मिनट के लिए किया जाता है।

अगले चरण में, टचस्क्रीन एक समान ताप स्तर परीक्षण से गुजरती है और फिर न्यूनतम और अधिकतम तापमान के बीच कूदते हुए तापमान में उतार-चढ़ाव परीक्षण के अधीन होती है।

अंत में, टच स्क्रीन को 5 ग्राम चरणों में अपने कंपन प्रतिरोध को साबित करना होगा।

परीक्षण चलाने के अंत में एक संयुक्त तनाव परीक्षण फिर से व्यक्तिगत भार के सुपरइम्पोजिशन के कारण अधिकतम तनाव उत्पन्न करता है।