Pag-unlad

Pagsubok sa HALT

Mataas na Pinabilis na Pagsubok sa Buhay

Sa kurso ng pagbuo ng mga touchscreen na tukoy sa customer, ginagamit Interelectronix ang HALT (Highly Accelerated Life Test) at HASS (Stress Screening) na mga pamamaraan ng stress test upang subukan at i-optimize ang kaligtasan ng produkto at buhay ng serbisyo nang naaayon.

Sa tulong ng pagsubok sa buhay ng serbisyo ng HALT, ang parehong mga teknikal na kahinaan at mga error sa disenyo ay natukoy sa isang maagang yugto sa panahon ng pagbuo ng isang touchscreen at inalis ng isang angkop na pagpipilian ng mga materyales at konstruksiyon.

Ang pagsubok ng HASS at HALT ay ginagamit upang gayahin ang normal, application na may kaugnayan sa pag-iipon at pagsusuot ng isang touchscreen sa isang mabilis na proseso. Ang pamamaraan ng pagsubok na ito ay tumatagal lamang ng dalawa hanggang limang araw, na lumilikha ng isang artipisyal na proseso ng pag-iipon na nagpapakita ng mga kahinaan ng isang produkto.

Pagkakasunud-sunod ng isang HALT test

Para sa pagsubok na ito, ang touch screen ay inilalagay sa isang vibrating table sa isang naka-compress na silid ng hangin.

Ang pagsubok ay karaniwang nagsisimula sa isang malamig na yugto ng pagsubok. Simula sa 20 ° Celsius, ang temperatura ay ibinaba sa 10 Kelvin hakbang sa minimum na temperatura na susuriin. Ginagawa ito sa loob ng 10 minuto sa bawat setting ng temperatura.

Sa susunod na hakbang, ang touchscreen ay sumasailalim sa isang katulad na pagsubok sa antas ng init at pagkatapos ay sumailalim sa isang pagsubok sa pagbabago ng temperatura, na tumatalon sa pagitan ng minimum at maximum na temperatura.

Sa wakas, ang touch screen ay kailangang patunayan ang paglaban ng panginginig ng boses nito sa 5 Grms na hakbang.

Ang isang pinagsamang stress test sa pagtatapos ng test run ay muling bumubuo ng maximum na stress dahil sa superimposition ng mga indibidwal na naglo-load.